Conférences

DES CONFÉRENCES POUR DÉCRYPTER ET ANTICIPER LES ENJEUX A VENIR

Les conférences sont organisées en partenariat avec des acteurs clés comme l’ASSOCIATION FRANCAISE DU PROTOTYPAGE RAPIDE, CAP’TRONIC, l’EUROPEAN MACHINE VISION ASSOCIATION (EMVA), TEMATYS, Jean-Luc BODNAR (Université de Reims Champagne Ardenne)… autour de thèmes tels que : Fabrication additive, Impression 3D, CND, Optique & éclairage, Technologie des caméras, Vision 3D, Usine 4.0, Lifi, Réalité augmentée, Cybersécurité, 5G, etc, illustrées avec des cas d’application concrets en Médical, Cosmétique, Agri/Agro, Automobile, Smart Cities/Smart Building, Industrie 4.0…

   


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mardi
19 sept

 

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MERCREDI
20 SEPT

 

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JEUDI
21 SEPT

 

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Le Programme

Mardi 19 septembre

Horaires

Salle 1

 Horaires

Salle 2

 

9h30/
10h00

Présentation de l’association EMVA et éléments provenant d’études de marchés chiffrés incluant des informations spécifiques au marché Français. (EMVA) 

9h30/
12h00

Les Matinales de L'Embarqué. Technologie LiFi : les perspectives dans l’IoT vues par le CEA-LETI (CAP’TRONIC / CEA LETI / OLEDCOMM)

10h00/
10h30

Vision : Cas d’utilisation dans le domaine automobile (EMVA / Visionic)

10h30/
11h00

Théorie du W : Comment définir les dimensions d’un éclairage indirect (EMVA / Effilux)

11h00/
11h30

Caméras Terahertz et applications dans quels domaines (EMVA / I2S)

13h00/
14h00

Développez votre « Caméra intelligente » (Atelier Exposant ALLIED VISION TECHNOLOGIE)

14h00/
16h00

Solutions de vision et de mesure en agriculture : Obligation d'acquisition de données pour faire entrer l'agriculture dans le grand mouvement du Big data (TEMATYS)

14h00/
15h00

Factory Management (Atelier EXPOSANT NCAB)

15h00/
16h00

La bonne gestion d'un produit d'un point de vue électronique  (USINE IO)

16h00/
17h00

Métrologie : quelles techniques pour quelles problématiques (Atelier EXPOSANT BRUKER)

16h00/
17h00

Thème à venir


Mercredi 20 septembre

Horaires

Salle 1

Horaires

Salle 2

10h00/
11h00

Métrologie 4.0 : Dématérialisez la gestion de vos étalonnages (Atelier EXPOSANT EUROTHERM AUTOMATION)

9h30/
12h00

Les Matinales de L'Embarqué. Industrialisation d’un système embarqué : les bonnes pratiques (CAP’TRONIC / CCI de Paris / LACROIX electronics)

11h00/
12h00

Développez votre « Caméra intelligente » (Atelier EXPOSANT ALLIED VISION TECHNOLOGIE)

12h00/
13h00

Quelle est l’incertitude associée au résultat de votre pesée ? (Atelier EXPOSANT METTLER TOLEDO)

12h00/
13h00

Mise sur le marché International des Equipements Electriques Electroniques (Atelier EXPOSANT EMITECH)

14h00/
14h30

Comment sélectionner la bonne camera en utilisant le standard EMVA 1288 (EMVA)

14h00/
15h30

La Fabrication additive pour l'Industrie 4.0
Organisé par l'AFPR (Association Française Prototypage Rapide)

14h30/
15h00

Vision 2D/3D dans l’inspection de cartes électroniques (EMVA / VI Technology)

15h00/
15h30

Fluorescence en vision (EMVA / I2S)

15h30/
16h30

Comment la fabrication additive révolutionne le schéma industriel traditionnel ? (Atelier EXPOSANT MULTISTATION/ HP)

15h30/
16h00

Eléments pour la réalisation d’un poste d’extraction de profiles 3D à grande vitesse (EMVA / Euresys)

16h00/
16h30

Caméras 3D (EMVA / ODOS IMAGING)

16h30/
18h00

La Fiabilité : enjeu majeur des vastes mutations technologiques de l’Automobile (Société des Ingénieurs de l'Automobile (SIA) animée par Laurent Meillaud, rédacteur en chef de la revue des Ingénieurs de l’Automobile)


Jeudi 21 septembre

Horaire

Salle 1

Horaires

Salle 2

 

9h00/
12h00

La Journée « Contrôles non destructifs» (Président et modérateur de session : Jean-Luc BODNAR Université de Reims Champagne Ardenne)

9h30/
12h00

Les Matinales de L'Embarqué. Sécurité dans les systèmes embarqués : bonnes pratiques (CAP’TRONIC / frv-Sense Cybersécurité / Cyberens)

 

12h00/
13h00

Développez votre « Caméra intelligente » (Atelier EXPOSANT ALLIED VISION TECHNOLOGIES)

12h00/
13h30

Voiture connectée et autonome : où en est-on ? (Société des Ingénieurs de l'Automobile (SIA), animée par Laurent Meillaud, rédacteur en chef de la revue des Ingénieurs de l’Automobile)

 

14h30/
16h45

La Journée « Contrôles non destructifs» (Président et modérateur de session : Jean-Luc BODNAR Université de Reims Champagne Ardenne)

14h00/
15h00

Thème à venir (USINE IO)

 

15h00/
16h00

Thème à venir

 


Conjointement à ENOVA PARIS, le 18ème Congrès International de Métrologie (CIM) organisé par le Collège Français de Métrologie

Les Matinales de L'Embarqué. La technologie LiFi : les perspectives dans l’IOT vues par le CEA-LETI
Mardi 19 septembre / 9h30/12h00 / SALLE 2 / Organisée par CAP'TRONIC

L’utilisation de la lumière pour des applications de télécommunication locale, de géolocalisation se démocratise et la technologie LiFi s’invite sur de nouveaux marchés. Au cours de cette conférence, la technologie LiFi sera présentée ainsi que ses contraintes de mises en œuvre. En particulier, le CEA Leti présentera les avancées technologiques et les approches mise en œuvre pour transférer ces technologies vers les industriels.

  • 9h30/9h40 : Introduction
  • 9h40/10h40 : La technologie LiFi : l’état de l’art (Martin Gallezot - CEA LETI)
  • 10h40/10h50 : Le programme EasyTech  (Martin Gallezot - CEA LETI)
  • 10h50/11h00 : Questions/Réponses
  • 11h00/11h30 : La technologie LiFi : quelle réalité ?  (Suat TOPSU - Président d’OLEDCOMM)
  • 11h30/12h00 : Questions/Réponses

Les Matinales de L'Embarqué.  L’industrialisation d’un système embarqué : les bonnes pratiques
Mercredi 20 septembre / 9h30/12h00 / SALLE 2 / Organisée par CAP'TRONIC

L’industrialisation d’un système embarqué impose d’anticiper certains points dès la conception. Au cours de cette conférence, l’auditeur pourra comprendre les bonnes pratiques à utiliser tout au long du développement. Des usages qui permettront de maîtriser au mieux la phase d’industrialisation.

  • 9h30/9h40 : Introduction
  • 9h40/10h10 : Les directives CEM, basses tension et RED  (Rémi TINGAUD - CCI de Paris)
  • 10h10/11h40 : L’approche DFx  (Stéphane GENDROT - LACROIX electronics)
  • 11h40/12h00 : Architecture, tests fonctionnels : une source de gain  (Claude Chose  – Consultant)

Les Matinales de L'Embarqué. La sécurité dans les systèmes embarqués : bonnes pratiques
Jeudi 21 septembre / 9h30/12h00 / SALLE 2 / Organisée par CAP'TRONIC

Les objets connectés se répandent au sein des entreprises et des foyers. Comment s’affranchir des intrusions, du détournement fonctionnel, de l’exploitation de données stratégiques recueillies par des tiers malveillants ? Au cours de cette conférence les aspects juridiques ne seront pas abordés mais l’auditeur appréhendera ces problématiques sous l’angle technologique. En particulier, les orateurs s’attacheront à établir un état de l’art des technologies, qu’elles soient logicielles ou matérielles.

  • 9h30/9h40 : Introduction
  • 9h40/10h10 : Pourquoi la sécurité est-elle importante ?  (Laurent NOISIER - frv-Sense Cybersécurité)
  • 10h10/10h20 : Questions/Réponses
  • 10h20/11h00 : Quelles bonnes pratiques contre les attaques des système embarqué ? (Bernard ROUSSELY - Cyberens)
  • 11h00/11h10 : Questions/Réponses
  • 11h10/11h40 : Les technologies à venir (CEA)
  • 11h40/12h00 : Questions/Réponses

La Fiabilité : enjeu majeur des vastes mutations technologiques de l’Automobile
MERCREDI 20 septembre16h30/18h00 / SALLE 2 / Organisée par la Société des Ingénieurs de l'Automobile (SIA)

A l’heure où l’innovation s’accélère, comment garantir la fiabilité des futurs modèles connectés et autonomes, qui vont s’enrichir de nombreux composants électroniques et de logiciels ? La fiabilité s’obtient à travers des millions de km d’essais. Peut-on aller plus vite ? Quelles sont les contraintes en matière de sécurité et de bon fonctionnement ?
Modérateur : Laurent MEILLAUD, Rédacteur-en-chef de la revue Ingénieurs de l’Auto
Paul SCHIMMERLING - SIA (Société des Ingénieurs de l’Automobile)
Jean-Charles SARBACH - FIEV (Fédération des Industries des Equipements pour Véhicules)
Christian NIGGEL - Continental Automotive France

Voiture connectée et autonome : où en est-on ? 
jeudi 21 septembre12h00/13h30 / SALLE 2 / Organisée par la Société des Ingénieurs de l'Automobile (SIA)

Quelle est la différence entre une voiture connectée et autonome ? Quel rôle vont jouer les constructeurs, les équipementiers et les start up ? Annoncée pour 2020, l’automatisation de la conduite est déjà bien avancée et la French Tech entend bien être aux avant-postes de cette révolution.
Modérateur : Laurent MEILLAUD, Rédacteur-en-chef de la revue
Ingénieurs de l’Auto
Vincent ABADIE - Groupe PSA
Guillaume DEVAUCHELLE - Valeo
Jochen LANGHEIM – Stmicroelectronics
Gérard YAHIAOUI - Nexyad
Alain PIPERNO - UTAC-CERAM
Jean-François SENCERIN - Renault

Journée « Contrôles non destructifs»
Jeudi 21 septembre / 9h00/17h30 / SALLE 1

Président et modérateur de session : Jean-Luc BODNAR (Université de Reims Champagne Ardenne)

  • 9h00/9h30 : Accueil
  • 9h30/9h55 : Analyse de traitements ostéopathiques par thermographie infrarouge. (Xuan Maxel, Damien Riquet et al - Ecole supérieure d’ostéopathie)
  • 9h55/10h20 : Le deep learning : Principe et exemples d’applications avec le supercalculateur Roméo. (Arnaud Renard, Mohamed Azaoui et al - Roméo)
  • 10h20/ 10h55 : Thermographie infrarouge embarquée sur drone : Retour d’expérience. (J.L. Marty et al - Institut de la thermographie)
  • 10h55/11h10 : Pause café
  • 11h10/11h35 : Le système AIOLI  : un nouveau système intéractif de documentation et de traitement des données. (J.M. Vallet et al - MAP)
  • 11h35/12h00 : Suivi de restauration d’oeuvres d’art du patrimoine par thermographie infrarouge. (Kamel MOUHOUBI et al - URCA)
  • 12h00/14h30 : Pause repas
  • 14h30/14h55 : Analyse 3D de gaz par thermographie infrarouge. (X. Watremez et al - Total)
  • 14h55/15h20 : Thermographie aerienne : retours d’experiences. (V. Le Sant et al - LNE)
  • 15h20/15h35 : Pause café
  • 15h35/16h00 : CND de matériaux métalliques par themographie infrarouge par induction. (Abdoulaye Taram et al - Arcelor Mittal – URCA)
  • 16h00/16h25 : Thermographies infrarouges multi et hyperspectrales et imagerie HDR : Principe et exemples d’applications. (Eric Guyot - TELOPS)
  • 16h25/16h45 : Conclusions et discussions

La bonne gestion d'un produit d'un point de vue électronique
MARdi 19 septembre / 15h00/16h00 / SALLE 2 / Organisée par Usine IO

Aujourd'hui avec la démocratisation des modules de développement électronique, il est très facile d'avoir une ébauche fonctionnelle d’une idée dessinée sur un coin de table. Même si c’est comme cela que naissent la plupart des idées il ne faut pas oublier qu’il y a des règles à suivre et des étapes importantes à valider pour assurer le succès de votre futur produit. Les experts d’Usine IO sont là pour vous aider et vous accompagner dans le bon processus de développement électronique.
Gauthier LAMOTTE - USINE IO

Factory Management
MARdi 19 septembre / 14h00/15h00 / SALLE 2 / Organisée par NCAB

  • Qualification des fabricants de Circuit Imprimés, futurs partenaires NCAB (équipe sourcing)
  • Suivi des performances des usines qualifiées : Qualité, taux de service des usines,...
  • Audit des usines (audit annuel, audit process mensuel)
  • Traitement des dossiers, des spécifications, des questions techniques, DFM
  • Sustainability (audit, code de conduite…)
    Mickaël CAVOLEAU - NCAB Group France

Métrologie : quelles techniques pour quelles problématiques ?
MARdi 19 septembre / 16h00/17h00 / SALLE 1 / Organisée par BRUKER

Mickael FEBVRE - BRUKER
Bruker vous propose de découvrir les techniques de profilomètrie les plus adaptées aux problématiques actuelles (mesure, aspect, usure, rugosité,…). Au travers de nombreux exemples, pertinence et limites de la profilomètrie optique, de contact et de la Microscopie à Force Atomique seront abordées.

Solutions de vision et de mesure en agriculture : Obligation d'acquisition de données pour faire entrer l'agriculture dans le grand mouvement du Big data
MARdi 19 septembre / 14h00/16h00 / SALLE 1 / Organisée par tematys

Les changements climatiques, la croissance démographique et des ressources en eau de plus en plus rares exercent une forte pression sur les méthodes agricoles pour augmenter les rendements sans que cela se fasse au détriment de la qualité organoleptique, ni d’une contamination excessive par des agents chimiques. Pour cela, les agriculteurs doivent disposer d’une information fiable, résolue spatialement et temporellement de leurs parcelles et de leurs productions. Ceci a conduit depuis une petite dizaine d’année à la mise au point de nouveaux outils de diagnostic de plus en plus précis.
Cette agriculture de précision a consommé depuis le début  de nombreux produits de vision. Initialement dans la bande visible, les dernières années ont vu un élargissement de la gamme vers de nouvelles bandes de fréquence dans le proche et le moyen infrarouge, ainsi que dans l’utilisation simultanée de nombreuses bandes (imagerie multi et hyperspectrales). Ces capteurs hyperspectraux peuvent par exemple être utilisés à toutes les étapes de culture, qu’il s’agisse de travaux de recherche dans le domaine du phénotypage, à une imagerie aéroportée du suivi de culture jusqu’à des méthodes de tri post récolte, pour sélectionner les meilleures productions et les distribuer dans l’aval de la chaine de production, au meilleur rapport qualité prix pour le producteur.
Cette demande de systèmes d'imageries visibles et maintenant multispectraux a été également favorisé par l'introduction des drones aériens et terrestres, la miniaturisation des dispositifs de vision et les algorithmes de traitement autorisant une sélection des flux vidéo au plus près de l’acquisition d’images. La baisse des couts dans les imageurs infrarouges devraient également faire migrer une partie de cette imagerie vers des zones à forte valeur informative (bande 1 à 2µm).
Une étude réalisée par Galileo Consortium identifie cette gestion en temps réel de la production agricole (analyse du stress des plantes, des infections parasitaires, des nutriments ...) comme une des principale zone de croissance pour ses dispositifs de localisation, diagnostic partagé par Monsanto, semencier mondial, qui évaluait en 2015 à 15B€ les opportunités dans le Big Data en Agriculture. La session de Vision et Mesures en Agronomie et Agriculture de ENOVA traitera de tous ces sujets avec l'intervention des principaux acteurs et investisseurs de l'Agronomie, de l’Agriculture, des fournisseurs de systèmes de vision dans ce domaine et des experts scientifiques pour présenter les solutions actuelles, leurs avantages et inconvénients et les solutions attendues à un horizon de 5 ans.

Quelle est l’incertitude associée au résultat de votre pesée ? 
MeRcredi 20 septembre / 12h00/13h00 / SALLE 1 / Organisée par METTLER TOLEDO

Pierre Girault - METTLER TOLEDO
Le choix de l’instrument de mesure en fonction de ses performances est fondamental pour que les résultats obtenus soient dans la tolérance requise. Une technique de pesage appropriée permet de réduire l’incertitude associée aux résultats de mesure obtenus avec les microbalances, les balances d’analyse ou même les balances de précision.

Comment la fabrication additive révolutionne les fondamentaux de la production industrielle 
MeRcredi 20 septembre / 15h30/16h30 / SALLE 2 / Organisée par MULTISTATION

Yannick LOISANCE  - MULTISTATION
La fabrication additive, un paradigme disruptif qui bouleverse la supply chain. Par Yannick Loisance, PDG de Multistation, pionnier du prototypage Rapide, et Pierre Victor Sabatier d’HP Inc.

La fabrication additive pour l'Industrie 4.0 
MeRcredi 20 septembre / 14h00/15h30 / SALLE 2 / Organisée par l'AFPR (Association Française Prototypage Rapide)

La smart factory est un des contextes de base de l'Industrie 4.0. La fabrication additive est un des maillons technologiques essentiels de la smart factory. Au-delà de la création d'objets de complexité et de diversité forte, la fabrication additive s'inscrit dans un contexte connecté où la gestion des processus de la chaîne de valeur est fondamentale afin de s'affranchir au maximum des risques de rupture et d'incohérence des flux systémiques, principalement de matière et d'information. Une vision intégrée, illustrée sur des exemples concrets, sera présentée et discutée.

 

Métrologie du Futur : Comment dématérialisez la gestion de vos étalonnages ? 
MeRcredi 20 septembre / 10h00/11h00 / SALLE 1 / Organisée par EUROTHERM AUTOMATION

Carlos MARTINS, Christophe LEMAN, Jocelyn ROGRON, Nicolas MAUCOURANT - EUROTHERM AUTOMATION
Découvrez pourquoi et comment utiliser un SaaS pour la gestion globale de votre métrologie. Réalisez des gains significatifs en fiabilisant votre planification et l’exécution de vos opérations. Optimisez la saisie sur site de vos certificats réglementés et accédez facilement à vos historiques pour vos audits.

Développez votre « Caméra intelligente »  
MARDI 19 SEPTEMBRE / 13h00/14h00 / SALLE 1
MeRcredi 20 septembre / 11h00/12h00 / SALLE 1
JEUDI 21 SEPTEMBRE / 12h00/13h00 /  SALLE 1
Organisée par ALLIED VISION TECHNOLOGIES

Christophe MOREAU - ALLIED VISION TECHNOLOGIES
Avec l’avènement des nouvelles plateformes pour le monde de l’embarqué et l’arrivée sur le marché du nouveau processeur spécialisé ALVIUM d’Allied Vision Technologies, il est maintenant plus facile d’imaginer pouvoir créer son propre système de vision modulaire et évolutif ou sa propre camera intelligente à partir des briques disponibles sur le marché.

Mise sur le marché International des Equipements Electriques Electroniques 
MeRcredi 20 septembre / 12h00/13h00 / SALLE 2 / Organisée par EMITECH

Pascal BONNENFANT, Eric COEURET - EMITECH

  • 12h00 Nouvelles Directives Européennes RADIO – CEM et Sécurité Electrique
  • 12h25 Réglementation Internationale MRA – accès au marché (Certification – Reconnaissance…)
  • 12h45 Présentation du Schéma International OC (CEM et Sécurité Electrique)


ZOOM SUR

                                  

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